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台式X射线吸收精细结构谱仪
采用独有的X射线单色器设计,无需同步辐射光源,在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析,提供XAFS和XES两种测量模式。
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easyXAFSXAFS/XES EDS 台式XAFS谱仪在能源存储材料研究中的应用
光源- 科研级别谱图效果- 台式设计,实验室内使用- 可外接仪器设备,控制样品条件- 可实现多个样品或多种条件测试- 操作便捷、维护成本低XAFS/XES 设备参数X射线
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XAFS/XES EDS台式X射线吸收精细结构谱仪 适用于台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS
外接仪器设备,控制样品条件- 可实现多个样品或多种条件测试- 操作便捷、维护成本低XAFS/XES 设备参数X射线源: XAFS: 1.2-kW XRD(Mo/Ag
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EDAX EDS TEM Octane
。TEAM™ EDS 软件可自动确定样品所含的元素,监测计数率、放大倍率、采集时间以及用于优化系统性能的许多其他参数。交互式审查允许用户在完成分析之前以一种独特方式预览结果。适用于 TEM 的
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EDAX EDS Octane Elect
Octane Elect EDS 系统Octane Elect EDS 系统是一款增强型能量色散谱 (EDS) 平台,融入了最新硅漂移探测器 (SDD) 技术和高速电子元件。Octane Elect
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EDAX EDS Octane Elite
Octane Elite EDS 系统Octane Elite SDD 的颠覆性进展将探测器技术提升至一个全新高度。此系列探测器采用了新型氮化硅 (Si3N4) 窗口,使轻元素检测和低 kV 微区分
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EDS台式X射线吸收精细结构谱仪XAFS/XES 应用于电池/锂电池
样品条件- 可实现多个样品或多种条件测试- 操作便捷、维护成本低XAFS/XES 设备参数X射线源: XAFS: 1.2-kW XRD(Mo/Ag) XES
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台式X射线吸收精细结构谱仪XAFS/XES easyXAFS 应用于电子/半导体
仪器设备,控制样品条件- 可实现多个样品或多种条件测试- 操作便捷、维护成本低XAFS/XES 设备参数X射线源: XAFS: 1.2-kW XRD(Mo/Ag
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台式X射线吸收精细结构谱仪EDSeasyXAFS 可检测V2O5纳米纤维
多个样品或多种条件测试- 操作便捷、维护成本低XAFS/XES 设备参数X射线源: XAFS: 1.2-kW XRD(Mo/Ag) XES: 100W XRF 空冷
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SEM QUANTAX EDS
布鲁克新一代 QUANTAX EDS 采用XFlash® 6探测器系列,探测器的有效面积为 10 至 100 mm2。第 6 代 EDS 提供硬件和软件技术,以实现最快、最可靠的结果:节省时间
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